成分谱分析用于材料的化学成分分析，包括主要化学成分及少量杂质元素，主要基于其它物理性质或电化学性质与材料的特征关系而建立。成分谱种类很多，有（）等晶体是由原子在三维空间中规则排列而成的。在研究晶体结构时，一般只抽象出其重复规律。这种抽象的图 成分谱分析用于材料的化学成分分析，包括主要化学成分及少量杂质元素，主要基于其它物理性质或电化学性质与材料的特征关系而建立。成分谱种类很多，有（）等晶体是由原子在三维空间中规则排列而成的。在研究晶体结构时，一般只抽象出其重复规律。这种抽象的图 2022-01-26 17
在化学成分相同的情況下，晶体结构不同或局部点阵常数的改变不会引起材料性能的变化。如果(h k l)的晶面间距是d，则(nh nk nl)的晶面间距为A:对 B:错 答案: 错A:d/n B:nd C:dn D:d 答案: d/n 在化学成分相同的情況下，晶体结构不同或局部点阵常数的改变不会引起材料性能的变化。如果(h k l)的晶面间距是d，则(nh nk nl)的晶面间距为A:对 B:错 答案: 错A:d/n B:nd C:dn D:d 答案: d/n 2022-01-24 12
材料的四面体：合成/制备；性质；结构/成分；使用性能特征X射线谱：当入射波增大到与阳极靶相适应的强度时，会在连续谱上出现一系列强度高范围窄的线状谱线，这些谱线都是与特定的物质有严格恒定的关系，因此称为特征X射线谱。A:对 B:错 答案: 对 材料的四面体：合成/制备；性质；结构/成分；使用性能特征X射线谱：当入射波增大到与阳极靶相适应的强度时，会在连续谱上出现一系列强度高范围窄的线状谱线，这些谱线都是与特定的物质有严格恒定的关系，因此称为特征X射线谱。A:对 B:错 答案: 对 2022-01-23 7
材料的组织形貌分析借助各种显微 技术探索材料的微观结构。主要包括（）等。在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子叫做（）A:光学显微 B:透射电子显微 C:扫描电子显微 D:扫描隧道显微 答案: 光学显微;透射电子显微;扫描电子 材料的组织形貌分析借助各种显微 技术探索材料的微观结构。主要包括（）等。在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子叫做（）A:光学显微 B:透射电子显微 C:扫描电子显微 D:扫描隧道显微 答案: 光学显微;透射电子显微;扫描电子 2022-01-23 8
主要的晶体物相分析方法有 X 射线衍射(XRD)电子衍射(ED)及中子衍射(ND)，其共同的原理是利用电磁波或运动电子束中子束等与材料内部规则排列的原子作用产生相干散射，获得材料内部原子排列的信息，从而重组出物质的结构。当一个K层电子被激发 主要的晶体物相分析方法有 X 射线衍射(XRD)电子衍射(ED)及中子衍射(ND)，其共同的原理是利用电磁波或运动电子束中子束等与材料内部规则排列的原子作用产生相干散射，获得材料内部原子排列的信息，从而重组出物质的结构。当一个K层电子被激发 2022-01-21 12
