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A:恒定高度模式 B:恒定电流模式 C:恒定扫速模式 D:恒定电压模式 答案: 恒定高度模式;恒定电流模式 原子力显微镜（）
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材料研究方法分为（）
A:组织形貌分析
B:分子结构分析
C:成分价键分析
D:物相分析
答案: 组织形貌分析;分子结构分析;成分价键分析;物相分析
材料科学的主要研究内容包括（）
A:材料的制备与加工
B:材料应用
C:材料的性能
D:材料的成分结构
答案: 材料的制备与加工;材料的性能;材料的成分结构
下列哪些内容不属于材料表面与界面分析（）
A:表面结构
B:气体的吸附
C:晶界组成厚度
D:晶粒大小形态
答案: 晶粒大小形态
下列哪些内容属于材料微区分析（）
A:裂纹大小
B:晶粒取向
C:位错
D:晶格畸变
答案: 裂纹大小;晶粒取向;位错;晶格畸变
下列哪些内容不属于材料成分结构分析（）
A:杂质含量
B:物相组成
C:晶界组成厚度
D:晶粒大小形态
答案: 晶界组成厚度;晶粒大小形态
扫描电子显微镜的分辨率已经达到了（）
A:1.0 nm
B:100 nm
C:0.1 nm
D:10 nm
答案: 1.0 nm
利用量子隧穿效应进行分析的仪器是
A:
扫描探针显微镜
B:
原子力显微镜
C:
扫描电子显微镜
D:
扫描隧道显微镜
答案:
扫描隧道显微镜
能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。
A:对
B:错
答案: 对
扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。
A:错
B:对
答案: 对
图像的衬度是（）
A:任意两点探测到的电子信号强度差异
B:任意两点探测到的光强差异
C:任意两点探测到的信号强度差异
D:任意两点存在的明暗程度差异
答案: 任意两点探测到的信号强度差异;任意两点存在的明暗程度差异
对材料进行组织形貌分析包含哪些内容（）
A:材料的表面界面结构信息
B:材料的外观形貌
C:晶粒的大小
D:位错点缺陷
答案: 材料的表面界面结构信息;材料的外观形貌;晶粒的大小;位错点缺陷
光学显微镜的最高分辨率为（）
A:0.5 μm
B:0.1 μm
C:1 μm
D:0.2 μm
答案: 0.2 μm
下列说法错误的是（）
A:可见光波长为450~750 nm，比可见光波长短的光源有紫外线X射线和γ射线
B:可供照明的紫外线波长为200~250 nm，可以作为显微镜的照明源
C:X射线不能直接被聚焦，不可以作为显微镜的照明源
D:X射线波长为0.05~10 nm，可以作为显微镜的照明源
答案: X射线波长为0.05~10 nm，可以作为显微镜的照明源
1924年，（）提出运动的电子质子中子等实物粒子都具有波动性质
A:布施
B:德布罗意
C:狄拉克
D:薛定谔
答案: 德布罗意
电子束入射到样品表面后，会产生下列哪些信号（）
A:二次电子
B:特征X射线
C:背散射电子
D:俄歇电子
答案: 二次电子;特征X射线;背散射电子;俄歇电子
第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的（）
A:惠更斯
B:胡克
C:伽利略
D:詹森父子
答案: 詹森父子
德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献（）
A:发明了油浸物镜
B:阐明了放大理论
C:阐明了光学显微镜的成像原理
D:解释了数值孔径等问题
答案: 发明了油浸物镜;阐明了放大理论;阐明了光学显微镜的成像原理;解释了数值孔径等问题
光学显微镜包括（）
A:反光镜
B:物镜
C:目镜
D:聚光镜
答案: 反光镜;物镜;目镜;聚光镜
下列关于光波的衍射，错误的描述是（）
A:光是电磁波，具有波动性质
B:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将沿直线传播
C:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将偏离直线传播
D:障碍物线度越小，衍射现象越明显
答案: 遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时，光线将沿直线传播
下列说法正确的是（）
A:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释
B:由于衍射效应，样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑
C:两个埃利斑靠得越近，越容易被分辨
D:埃利斑半径与光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比
答案: 衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释;由于衍射效应，样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑
在狭缝衍射实验中，下列说法错误的是（）
A:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长，形成中央亮斑
B:狭缝中间每一点可以看成一个点光源，发射子波
C:子波之间相互干涉，在屏幕上形成衍射花样
D:在第一级衍射极大值处，狭缝上下边缘发出的光波波程差为1½波长
答案: 整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长，形成中央亮斑
下列关于阿贝成像原理的描述，正确的是（）
A:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成
B:参与成像的衍射斑点越多，物像与物体的相似性越好。
C:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉，形成衍射谱
D:同一物点的各级衍射波在像面的干涉，形成物像
答案: 物像由透射光和衍射光互相干涉而形成;参与成像的衍射斑点越多，物像与物体的相似性越好。;不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉，形成衍射谱;同一物点的各级衍射波在像面的干涉，形成物像
下列说法错误的是（）
A:物镜光轴上的物点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度是孔径半角
B:物镜口径越大，分辨率就越高
C:物镜的数值孔径和分辨率成正比
D:孔径半角与物镜的有效直径成反比，与物镜的焦距成正比
答案: 孔径半角与物镜的有效直径成反比，与物镜的焦距成正比
像差包括（）
A:色散
B:像域弯曲
C:球面像差
D:色像差
答案: 像域弯曲;球面像差;色像差
金相显微镜的制样过程包括（）
A:磨光
B:镶样
C:抛光
D:腐蚀
答案: 磨光;镶样;抛光;腐蚀
下列关于扫描电子显微镜的描述错误的是（ ）
A:景深长，立体感强
B:可观察块状样品
C:可观察组织细胞内部结构
D:利用二次电子和背散射电子成像
答案: 可观察组织细胞内部结构
扫描电镜的分辨率是指（ ）
A:二次电子像的分辨率
B:俄歇电子的分辨率
C:背散射电子像的分辨率
D:吸收电子像的分辨率
答案: 二次电子像的分辨率
电子束与固体样品相互作用，可以产生以下哪些信号（）
A:二次电子
B:俄歇电子
C:背散射电子
D:特征X射线
答案: 二次电子;俄歇电子;背散射电子;特征X射线
下列说法正确的是（）
A:利用特征X射线信号可以进行定性成分分析
B:利用特征X射线信号可以进行定量成分分析
C:利用弹性背散射电子信号可以进行定性成分分析
D:利用弹性背散射电子信号可以进行定量成分分析
答案: 利用特征X射线信号可以进行定量成分分析;利用弹性背散射电子信号可以进行定性成分分析
关于二次电子的描述，正确的是（）
A:二次电子信号反映样品的成分信息
B:二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子
C:二次电子信号反映样品的表面形貌特征
D:二次电子信号的分辨率高
答案: 二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子;二次电子信号反映样品的表面形貌特征;二次电子信号的分辨率高
背散射电子的性质是（）
A:可用于样品的表面成分分析
B:产额随原子序数增加而增加
C:产生范围在表层100~1000 nm内
D:可用于样品的表面形貌分析
答案: 可用于样品的表面成分分析;产额随原子序数增加而增加;产生范围在表层100~1000 nm内;可用于样品的表面形貌分析
扫描电子显微镜有以下哪种信号的探测器（）
A:二次电子
B:特征X射线
C:法拉第网杯
D:背散射电子
答案: 二次电子;特征X射线;背散射电子
关于扫描电子显微镜景深的描述，错误的是（）
A:扫描电子显微镜景深比光学显微镜的景深大
B:电子束的入射半角越大，景深越大
C:扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小
D:景深是对样品高低不平的各部位同时聚焦成像的能力范围
答案: 电子束的入射半角越大，景深越大;扫描电子显微镜景深比透射电子显微镜的景深小
关于扫描电子显微镜的样品制备，哪个说法是错误的（）
A:对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察
B:镀膜方法为离子溅射或真空蒸发
C:镀膜可以是金银碳，膜厚在10~20 nm
D:对于非导电样品，要进行镀膜处理，增加导电性
答案: 对于导电性好的样品，只需直接粘在样品台上，即可进行观察;镀膜可以是金银碳，膜厚在10~20 nm
电子枪由（ ）组成
A:阴极栅
B:正极负极栅极
C:阴极阳极
D:阴极阳极栅极
答案: 阴极阳极栅极
扫描探针显微镜的优点有（）
A:横向分辨率为0.01 nm，纵向分辨率为0.01 nm
B:可以在高温和低温状态下工作
C:可以对金属样品进行扫描
D:可以在大气真空溶液环境下进行工作
答案: 可以在高温和低温状态下工作;可以在大气真空溶液环境下进行工作
下列哪些显微镜属于扫描探针显微镜（ ）。
A:
扫描离子电导显微镜
B:
扫描隧道显微镜
C:
原子力显微镜
D:
静电力显微镜
答案:
扫描离子电导显微镜
;
扫描隧道显微镜
;
原子力显微镜
;
静电力显微镜
下列关于扫描探针显微镜的描述，错误的是（）
A:可以对原子分子进行操纵
B:一种具有非常高的空间分辨率的三维轮廓仪
C:可以获得样品表面的摩擦力粘附力等信息性
D:分辨率从原子尺度级到毫米量级
答案: 分辨率从原子尺度级到毫米量级
扫描探针显微镜的组成部分有（）
A:
计算机系统
B:
反馈系统
C:
粗调定位系统
D:
压电扫描器
答案:
计算机系统
;
反馈系统
;
粗调定位系统
;
压电扫描器
扫描隧道显微镜是基于哪个原理进行工作的（）
A:
表面效应
B:
原子间相互作用力
C:
量子隧穿效应
D:
量子尺寸效应
答案:
量子隧穿效应
下列关于扫描隧道显微镜的描述，正确的是（）
A:使用铂丝或者钨丝探针进行扫描
B:当探针与样品表面相距1 nm左右时，会发生隧穿效应
C:探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变
D:分辨率可以达到原子尺度级别
答案: 使用铂丝或者钨丝探针进行扫描;当探针与样品表面相距1 nm左右时，会发生隧穿效应;探针与样品间距发生变化时，隧穿电流发生指数级改变;分辨率可以达到原子尺度级别
扫描隧道显微镜的两种工作模式是（）
A:恒定高度模式
B:恒定电流模式
C:恒定扫速模式
D:恒定电压模式
答案: 恒定高度模式;恒定电流模式
原子力显微镜（）
A:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
B:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
C:是利用原子间的吸引力来呈现样品的表面特性
D:可以对导电样品或非导电样品进行观测
答案: 利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描;探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转;可以对导电样品或非导电样品进行观测
在接触式原子力显微镜中，哪个描述是错误的（）
A:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
B:针尖与样品有轻微的物理接触
C:探针与样品的距离小于1 nm
D:利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏
答案: 利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面轮廓的起伏
相的内涵是具有特定的结构和性能的物质状态，包括（）
A:固相
B:气相
C:等离子相
D:液相
答案: 固相;气相;等离子相;液相
利用衍射分析的方法可以研究材料的（）
A:物相结构
B:晶胞常数
C:晶格类型
D:元素组成
答案: 物相结构;晶格类型;元素组成
物相分析的手段包括（）
A:光子衍射
B:X射线衍射
C:电子衍射
D:中子衍射
答案: 光子衍射;电子衍射;中子衍射
电子与物质的相互作用时（）
A:入射电子束可以被聚焦
B:入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波
C:入射能量为10~500 eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息
D:入射能量为10~200 KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析
答案: 入射电子束可以被聚焦
入射电子与样品原子发生（），散射波会相互干涉形成衍射波。
A:叠加干涉
B:弹性散射
C:非弹性散射
D:衍射
答案: 弹性散射
利用电磁波或电子束中子束等与材料内部规则排列的原子作用，产生非相干散射，从而获得材料内部结构信息
A:对
B:错
答案: 错
X射线衍射方法可以进行多相体系的综合分析，也可以实现对亚微米量级单颗晶体材料的微观结构分析
A:错
B:对
答案: 错
纯铁在低于1000度时，呈现α相。
A:对
B:错
答案: 错
材料内部的晶体结构和相组成可以通过衍射线的方向和强度而决定。
A:错
B:对
答案: 对
低能电子衍射可以观测样品表面的原子结构信息。
A:错
B:对
答案: 对
七大晶系包括（）
A:四方晶系
B:正交晶系
C:立方晶系
D:六方晶系
答案: 四方晶系;正交晶系;立方晶系;六方晶系
立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（）
A:相互平行
B:成一定角度范围
C:无必然联系
D:相互垂直
答案: 相互垂直
在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（）
A:1
B:2
C:6
D:4
答案: 4
关于电子与物质的相互作用，下列描述正确的是（）
A:
入射电子与样品原子发生弹性散射，散射波相互干涉形成衍射波
B:
入射能量为10~200 KeV的高能电子穿透能力比X射线强，可用于薄膜分析
C:
入射能量为10~500 eV的低能电子可用于分析样品表面1-5个原子层的结构信息
D:
入射电子束可以被聚焦
答案:
入射电子束可以被聚焦
利用电磁波或电子束中子束等与材料内部规则排列的原子作用，产生非相干散射，从而获得材料内部结构信息
A:错
B:对
答案: 错
X射线衍射方法可以进行多相体系的综合分析，也可以实现对亚微米量级单颗晶体材料的微观结构分析
A:错
B:对
答案: 错
凡属于[uvw]晶带的晶面，其晶面指数(hkl)必满足关系hu+kv+lw=0
A:对
B:错
答案: 对
构成晶体的质点包括（）
A:分子
B:离子
C:原子
D:电子
答案: 分子;离子;原子
电子入射到晶体以后，哪三者存在严格的对应关系（）
A:衍射角度
B:产生衍射的晶面
C:衍射图谱
D:衍射波的波矢量
答案: 衍射角度;产生衍射的晶面;衍射图谱;衍射波的波矢量
简单立方结构单晶的电子衍射花样可能呈现（）
A:方格子结构
B:平行四边形结构
C:同心圆环
D:六边形结构
答案: 方格子结构
关于衍射现象的描述，错误的是（）
A:不受晶体内周期性的原子排布影响
B:在空间某些方向上发生波的相干增强
C:入射的电磁波和物质波与晶体发生作用的结果
D:在空间某些方向上发生波的相干抵消
答案: 不受晶体内周期性的原子排布影响
X射线与物质发生相互作用时（）
A:若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射
B:若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射
C:原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子
D:康普顿散射是相干散射
答案: 若与内层强束缚电子作用，会发生相干增强的衍射;若与外层弱束缚电子作用，会发生非相干散射;原子核外电子包括外层弱束缚电子和内层强束缚电子;康普顿散射是相干散射
电子与物质发生相互作用时（）
A:入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射
B:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长不发生改变，发生非弹性散射
C:电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射
D:入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射
答案: 入射电子受原子核的散射作用时，原子核基本不动，电子不损失能量，发生弹性散射;电子在物质中的弹性散射大于非弹性散射;入射电子受核外电子的散射作用时，入射电子能量会转移给核外电子，损失部分能量，波长发生改变，发生非弹性散射
下列关于晶体对电子的衍射作用的描述，错误的是（）
A:在弹性散射情况下，晶体内部某些方向的散射波发生相干增强，形成衍射波
B:透射电子显微镜可以看到原子尺度上的结构信息
C:电子衍射强度比X射线高1000倍
D:电子衍射可以提供试样晶体结构原子排列原子种类等信息
答案: 电子衍射强度比X射线高1000倍;电子衍射可以提供试样晶体结构原子排列原子种类等信息
对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是()
A:h+k+l为奇数
B:不存在系统消光
C:hkl为异性数
D:h+k为奇数
答案: 不存在系统消光
面心立方晶体产生系统消光的晶面有（）
A:220
B:111
C:112
D:200
答案: 112
将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为()
A:吸收因子
B:结构因子
C:多重性因子
D:角因子
答案: 多重性因子
布拉格方程从数学的角度进行解答衍射方向问题
A:错
B:对
答案: 对
厄瓦尔德图解以作图的方式分析衍射发现问题
A:对
B:错
答案: 对
入射波为电磁波或者物质波，它们的衍射波遵循不同的衍射几何和强度分布规律
A:对
B:错
答案: 对
力连衬麓饲社沙两膘斥搞碾戒
签浑壁圭稿挪凰航诧姓逢倘纫